產(chǎn)品中心
PRODUCT CENTER描述:品牌:正業(yè) 用途:用于元立件、IC芯片、IGBT等無損檢測(cè)分析 檢測(cè)內(nèi)容: 1、IC內(nèi)部異物(如:金屬絲.多余線,多余Die) 2、IC線性缺陷(如:塌線,線擺,線緊,線弧高,線弧低,平頂,飛線、少線,斷線等壞品)
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產(chǎn)品型號(hào):02/
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家03/
更新時(shí)間:2024-03-1204/
訪問量:725Articles
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一、算法軟件功能強(qiáng)
1. 自主研發(fā)的復(fù)盤算法能夠?qū)崟r(shí)復(fù)盤,邊采圖邊復(fù)盤。
2. 人機(jī)交互功能豐富。界面圖片可拖拽、縮放,可在復(fù)盤圖上雙擊NG芯片,即可索引并顯示出該芯片的原圖、NG類型等信息。3. 自主研發(fā)的檢測(cè)算法能夠自動(dòng)準(zhǔn)確地檢測(cè)芯片的線型及芯片導(dǎo)物等不良項(xiàng)。
4. 軟件具備掃碼、MES上傳、人工復(fù)判等功能。
二、檢測(cè)效率高
整盤矩陣式采圖,無需拉料卷料;具有CCD視覺定位系統(tǒng),機(jī)器人自動(dòng)上料。7英寸料盤檢測(cè)用時(shí)3min(3000pcs)。
三、 生產(chǎn)線對(duì)接
具備與AGV對(duì)接功能。
四、 安全環(huán)保
整個(gè)設(shè)備安全互鎖,三重防護(hù)功能,機(jī)身表面任何部位均滿足安全輻射標(biāo)準(zhǔn)
檢測(cè)內(nèi)容:
1、 IC內(nèi)部異物(如:金屬絲.多余線,多余Die)
2、IC線性缺陷(如:塌線,線擺,線緊,線弧高,線弧低,平頂,飛線、少線,斷線等壞品)